Semrock MaxDiode二極管激光波長純化濾光片

離子束濺射制造現(xiàn)在可用來制造近紅外波長具有精確光譜特征(銳邊、通帶等)的光學(xué)濾光片，其特征為~ 1700 nm，高透射到波長> 2000 nm。此頁面上的帶通濾光片非常適合作為激光源純化濾光片和檢測濾光片，它可以通過特定的激光波長，并在整個InGaAs探測器范圍（850 - 1750 nm）內(nèi)實際消除背景。它們針對1.5μm波長范圍內(nèi)受歡迎的“視網(wǎng)膜安全”激光進行了優(yōu)化，其中最大允許眼圖曝光量遠高于可見光或1.06μm釹線。應(yīng)用包括激光雷達、遙感、測距和激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)。

近紅外帶通濾光片在1535 nm、r - doped光纖，InGaAsP半導(dǎo)體激光器1550nm，Nd:yag -泵浦光學(xué)參量振蕩器(OPO ' s)1570 nm上很好地匹配了er - doped光纖和er - doped玻璃激光器。

Semrock MaxDiode二極管激光波長純化濾光片

LDT規(guī)格=1 J/cm²@1570 nm（10 ns脈沖寬度）

除了上面列出的透射,帶寬和阻塞,其他規(guī)格都與MaxLine®相同，見93頁。

光學(xué)濾光片簡介

濾光片選擇性地透射光譜的一部分，同時拒絕透射其余部分。愛特蒙特光學(xué)的光學(xué)濾光片常用于顯微鏡、光譜學(xué)、化學(xué)分析和機器視覺，可提供各種過濾類型和精度等級。本應(yīng)用筆記介紹了用于制造愛特蒙特光學(xué)濾光片的不同技術(shù)、一些關(guān)鍵規(guī)范的定義以及愛特蒙特光學(xué)提供的各種濾光片的描述。

光學(xué)濾光片關(guān)鍵術(shù)語

雖然濾光片與其他光學(xué)組件有許多相同的規(guī)范，但是為了有效地了解并確定哪種濾光片適合您的應(yīng)用，應(yīng)該了解濾光片中的許多特定規(guī)范。

中心波長 (CWL)

用于定義帶通濾光片的中心波長描述頻譜帶寬的中點，濾光片在此之上傳輸。傳統(tǒng)的鍍膜光學(xué)濾光片傾向于在中心波長附近達到大的透射率，而鍍加硬膜的光學(xué)濾光片往往在光譜帶寬上有相當(dāng)平坦的傳輸輪廓。

帶寬

帶寬是一個波長范圍，用于表示頻譜通過入射能量穿過濾光片的特定部分。帶寬又稱為FWHM（圖1）。

圖 1: 中心波長和半峰全寬說明

半峰全寬 (FWHM)

FWHM
描述帶通濾光片將傳輸?shù)念l譜帶寬。該帶寬的上限和下限是在濾光片達到大透射率的 50% 時的波長下定義的。例如，如果濾光片的大透射率是 90%，那么濾光片達到透射率之 45% 時的波長將定義 FWHM 的上限和下限。10 納米或更低的 FWHM 被認為是窄帶，通常用于激光凈化和化學(xué)檢測。25-50 納米的 FWHM 經(jīng)常用于機器視覺應(yīng)用；超過 50 納米的 FHWM 被認為是寬帶，通常用于熒光顯微鏡應(yīng)用。

截止范圍

阻斷范圍是用于表示通過濾光片衰減的能量光譜區(qū)域的波長間隔（圖2）。阻斷程度通常會在光密度中定。

圖 2: 截止范圍說明

斜率

斜率是通常在邊緣濾光片上定義的規(guī)范，如短波通或長波通濾光片，用來描述濾光片從高截止轉(zhuǎn)換為高透射率的帶寬。可以從各種起點和終點定斜率，作為截止波長的百分比。愛特蒙特光學(xué)有限公司通常將斜率定義為從 10% 傳輸點到 80% 傳輸點的距離。例如，將期望具有 1% 斜率的 500 納米長波通濾光片在 5 納米（500 納米的 1%）帶寬上從 10% 的透射率轉(zhuǎn)換為 80% 的透射率。

光密度(OD)

光密度描述被濾光片阻斷或拒絕的能量量。高光密度值表示低透射率，低光密度則表示高透射率。6.0或更大的光密度用于兩端的阻斷需求，如拉曼光譜或熒光顯微鏡。3.0-4.0的光密度是激光分離和凈化、機器視覺和化學(xué)檢測的理想選擇，而 2.0 或更少的光密度是顏色排序和分離光譜順序的理想選擇。

圖3:光密度說明

二向色性濾光片

二向色性濾光片是用于取決于波長透射率或反射光的濾光片類型；特定波長范圍透射的光則鑒于不同范圍的光線反射或吸收（圖4）。二向色性濾光片常用于長波通和短波通應(yīng)用。

圖4:二向色性濾光片鍍膜說明

起始波長

起始波長是用于表示在長波通濾光片中透射率增加至50%波長的術(shù)語。起始波長由圖5中的λcut-on起始表示。

圖 5:起始波長說明

截止波長

截止波長是用于表示在短波通濾光片中透射率降低至50%波長的術(shù)語。截止波長由圖6中的λcut-off截止表示。

圖6:截止波長說明

Semrock成功地將穩(wěn)定*的濺射沉積系統(tǒng)與沉積控制技術(shù)，不同的預(yù)測算法，工藝改進和批量生產(chǎn)能力相結(jié)合。Semrock性能優(yōu)良的光學(xué)濾光片為生物技術(shù)和分析儀器行業(yè)樹立了標(biāo)準(zhǔn)。

Semrock濾光片全部由離子束濺射和專有的單基片結(jié)構(gòu)制成，可實現(xiàn)較高的透射率。更加陡峭的邊緣，準(zhǔn)確的波長精度和精心優(yōu)化的遮擋意味著更好的對比度和更快的測量-即使在紫外線波長下也是如此。

Semrock濾光片具有很長的使用壽命和優(yōu)良的性能，可確保獲得優(yōu)良的圖像。與升級相機和物鏡的成本相比，它們可能是提高顯微鏡性能的簡單經(jīng)濟的方法。